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XRD(x-ray Diffraction)

저작시기 2014.12 |등록일 2014.12.30 | 최종수정일 2016.06.02 파워포인트파일MS 파워포인트 (pptx) | 57페이지 | 가격 3,000원

목차

1. 결정구조와 밀러조건
2. 연속 X-선발생원리
3. 특성 X-선 발생원리(XRF)
4. 브래그조건 유도
5. GONIOMETER
6. XRD Sample준비
7. 결정구조분석
8. 정량분석
9. XRF & XRD

본문내용

1. 면이 중심을 지나면 평행 이동
2. 면이 3축과 만나는 점을 구함(x, y, z)
3. 역수를 취함
4. 공통 분모를 곱하여 최소의 정수를 구함
5. 지수는 ( )안에 콤마 없이 표시

교차점 : 1, 1, ∞
역 수 : 1, 1, 0
지수 : (110)
교차점 : 1/2, 1, 3/4
역 수 : 2, 1, 4/3
공통분모 3을 곱하면
지수 : (634)

<중 략>

특정 상의농도는 그 강도에 비례한다
(peak area minus background, height?)
More crystallites, more reflections, greater intensity
Klug , Alexander (1954) 는 혼합물의 결정상의 세기를 이용하여 정량화 하는 기술을 세계최초로 설명하였다
- 미지의 샘플의 피크강도비율과 표준 샘플의 질량 분율의 함수
미지의 위상의 강도를 교정하는 내부 표준 광물은 공지된 양을 사용

- Use single peak only, generally most intense peak (I100%) Requires fully resolved peak
- 내부 표준 물질 - 다른 피크가 중복되지 않아야 하고 간단한 잘 정리 된 패턴 (simple CC); 샘플과 동일한 결정의 크기를 선택
- Spiking (standard addition) – add extra wt% of desired phase to mixture and acquire at least 2 scans- 표준물질

참고 자료

없음
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