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BJT특성 예비보고서

저작시기 2013.04 |등록일 2013.04.29 한글파일한글 (hwp) | 7페이지 | 가격 800원

목차

없음

본문내용

실험목적
1. 트랜지스터 규격서에 나오는 데이터의 성질을 정확히 파악한다.
2. 에미터 공통 회로로 사용되는 콜렉터 특성 곡선(VCE 대 IC)들을 측정하고 그래프로 나 타낸다.

실험이론
1. 트랜지스터 데이터
트랜지스터 데이터는 각각의 응용에 대한 요구 조건들에 따라 여러 가지 형태로 된다. 이러한 데이터는 표와 그래프 형태로 제공되며, 이것을 이해하는 것이 중요하다. 데이터는 트랜지스터와 사용 목적에 따라 달라진다.

2. 트랜지스터와 그 응용의 간단한 설명
예를 들어 사성 반도체 규격서에 의하면 KSC 900은 일반적인 용도와 저전압, 저전류의 오디오와 비디오 증폭기에 쓰이는 소신호 NPN 에피택셜(epitaxial) 실리콘 트랜지스터이다.
KSC 900 트랜지스터의 외형과 에미터, 베이스, 콜렉터의 위치

<중 략>

5. 커브 트레이서
트랜지스터 커브 트레이서는 외부의 시험 회로를 필요로 하지 않는다. 트랜지스터를 커브 트레이서의 소켓에 꽂는다. 커브 트레이서를 조정하는 데 필요한 동작 전압과 전류는 매뉴얼에 명시되어 있다. 커브 트레이서의 디스플레이 화면에는 트랜지스터 특성 곡선이 그래프로 표시된다. 커브 트레이서의 제어 단자를 적당히 조정함으로써 그림 2의 전체 특성군을 표시할 수 있다. 커브 트레이서에 일반적인 오실로스코프의 기능은 없지만, 외형적으로는 오실로스코프와 비슷하다. 오실로스코프에 접속 가능한 간단한 커브 트레이서도 시관되고 있다. 오실로스코프 카메라는 오실로스코프와 커브 트레이서의 화면을 사진으로 나타내는 데 유용하다.

참고 자료

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