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이산 제어 시스템

저작시기 2013.04 |등록일 2013.04.18 한글파일한글 (hwp) | 2페이지 | 가격 1,000원

목차

1.사건기반 변화 (event-driven change)
토스터기
작동방법 및 원리

2.시간기반 변화 (time-driven change)
토스터기
작동방법 및 원리

본문내용

저는 같은 역할을 하는 두종류의 토스터기로 사건기반 변화와 시간기반 변화를 알아보았습니다.
제가 예시로 드는 제품 두가지다 토스터기이지만 하나는 전자석과 축전지, 니크롬선등을 이용한 사건기반 변화 제어방식이고, 두 번째 토스터기는 시간기반 변화 제어방식을 사용하는 토스터기로서 앞서 사용한 시간을 기억해 뒤에 사용한 시간과의 차이 시간을 계산하여 예열, 가열 세기를 차등조절 하여 동일한 열기를 주는 방식을 채택하고 있습니다.
같은 제품이더라도 제품이 지향하는 방식에 따라 제어시스템도 변화함을 알 수 있습니다.

<중 략>

토스터기
작동방법 및 원리
토스터 가열시간 제어방법에 관한 것 입니다. 이 토스터 제품의 가열시간 제어방법은, 토스터 연속 사용시 마지막으로 사용한 시간을 마이크로 컴퓨터가 기억하여, 상기 기억된 시간과 새로이 토스터를 사용하는 시간사이의 휴지시간을 마이크로 컴퓨터가 자동으로 카운트하고, 또한 상기 휴지시간의 차이에 따라 히터 릴레이와 팬 모터 릴레이의 동작시간을 차등하게 설정하여 줌으로서

참고 자료

http://www.ebuzz.co.kr/content/buzz_view.html?uid=86696#ixzz15gMPlW89
http://kpat.kipris.or.kr/kpat/biblioa.do?method=biblioFrame
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