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RL 직렬회로의 인덕턴스 측정 RL 직, 병렬 회로의 인덕턴스 측정 브리지에 의한 LC 측정

저작시기 2012.12 |등록일 2013.02.11 워드파일MS 워드 (docx) | 19페이지 | 가격 1,800원

소개글

기초회로실험

목차

1. 제목
2. 실험결과
3. 결과분석 및 검토사항
4. 토의
5. 참고문헌

본문내용

제목: 험15. RL 직렬회로의 인덕턴스 측정
실험결과
과정(1) 인덕턴스 L 측정
Figure 15.5 - L 측정회로
Table 15.1 - L 측정회로 VA2=VR2+VL2
교류전압계에 의한 측정값[V]
오실로스코프로 측정된 피크-피크간 전압[V]
환산된 실효치[V]

<중 략>

토의
휘트스톤 브리지에 대해서 RLC회로에 적용하는 실험이었다. 여기서는 실수부와 허수부를 구분하여 보는 것이었는데 수식으로만 볼 때는 복잡하여 보였으나 직접 실험하여 보니 이해가 되었다. 회로를 설치하고 중간의 연결부분으로 전류가 흐르지 않도록 하는 것이었는데 처음에 하였던 직렬형 브리지 회로와 병렬형 브리지 회로는 예상한대로 회로를 설치하고 전류를 측정하였더니 최소값이 나왔다. 가변저항을 하나씩 돌려가면서 전류가 최소가 되는 값을 찾았는데 전류의 단위가 uA단위 이하로는 내려가지 않았다. 이것은 가변저항의 미세함에서 오는 오류라고 판단된다. 그리고 세번째의 Maxwell-Wein 브리지실험에서는 예상한 저항값은 100Ω과 1000차의 원인은 저항의 색 판독에 의한 허용오차와 analog unit, 도선의 내부저항, 멀티미터의 부정학함 등을 말할 수 있다. 마지막 Hay브리지는 Pspice를 통하여 실험하는 것이었는데 이것을 하면서 앞의 나머지 3개의 브리지 회로도 시뮬레이션 하였는데 여기서 전류가0이되는지 때문이다.

참고 자료

00대학교 전자공학과 저, 기초전자공학실험교재, 00대학교 전자공학과, 2011
이병기, 기초회로실험, 회중당, 1990, pp.4
BOYLESTAD, 이준응 역, 최신회로이론, 동일출판사, 초판, 1999, pp.543-569
FRANCO, 박경탁 역, 회로이론의 기초, 청문각, 초판, 1997, pp.287-304
J. D. Irwin and R. M. Nelms, Basic Engineering Circuit Analysis, 9/e, Sons, 2008. pp.249-280
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