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주사전자현미경의 구성

저작시기 2010.05 |등록일 2012.05.22 워드파일MS 워드 (docx) | 15페이지 | 가격 1,000원

소개글

주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)의 구성 및 기능에 대한 상세한 설명.
"전자현미경의 기본원리의 후속편으로 작성됨.

목차

3. 주사전자현미경의 구성
(1) 전자총(electron gun)
(2) 전자기 렌즈 (Electromagnetic Lens) : 렌즈 / 조리개 / 축조정 코일 / 주사코일 / 비점수차 보정 코일
프로브의 형성 / 시료표면 스캐팅 및 초점조절
(3) 영상신호 검출장치 : 이차전자 검출기 / 후방 산란전자 검출기 / X선 분석기
(4) 고전압 발생장치
(5) Stage와 시편 Holder
(6) SEM Electronics
(7) 진공계.

4. 전자현미경 시장의 전망

본문내용

주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)은 고체 상태에서 작은 크기의 미세 조직과 형상을 관찰할 때 널리 쓰이는 현미경으로서 1965년 최초로 상품화된 후 초점 심도가 깊고 3차원적인 영상의 관찰이 용이해서 복잡한 표면구조나 결정 외형 등의 입체적인 형상을 높은 배율로 관찰할 수 있는 분석 장비이다. 활용도도 매우 다양해서 금속 파편, 광물과 화석, 반도체 소자와 회로망의 품질 검사, 고분자 및 유기물, 생체 시료와 유가공 제품 등 전 산업 영역에 걸쳐 있다. 특히 X-선을 이용하여 작은 부피의 화학 조성을 빠르고 정확하게 측정할 수 있어서 SEM의 활용분야를 획기적으로 확장해주고 있다.

참고 자료

윤존도, “주사전자현미경 분석과 X선 미세분석”, 청문각, 2005
조양구, “전자현미경의 개발과 응용”, 화학세계, 2008.9
박창현, 염미정, 엄창섭, “돋보기에서 FE까지 현미경의 변천사-생명과학적 관점에서”, 한국전자현미경학회지 제33권 제2호, 2003
WinterGreen Research Inc., "Worldwide TEM and SEM market share, Strategies, and Forecast, 2009 to 2015", Jan. 2009
JETRO Market Report, “Nanoscale Equipment for Visualization and Measurement”, March 2006
BCC Research, “ Microscopy: The Gloal Market”, June 2007
㈜코셈, “Introduction to Electron Microscope”, 2009. 2
안재평/박종구, “전자현미경의 회절원리와 나노구조분석 응용”, 고분자과학과 기술 17권 4호, 2006. 8
한국기초과학지원연구원, “초미세 세계와 전자현미경”
백태선, “주사전자현미경(SEM)”, 2003. 9
윤존도, SEM 워크샵 교육자료 “주사전자현미경의 개요 및 전자광학”, 2008. 7
김석환, SEM 워크샵 교육자료 “신호검출 및 영상원리”, 2008. 7
경상대, “전자현미경 및 재료분석기기”, http://super.gsnu.ac.kr/lecture/microscopy/em.html
생산기술연구원, “미세조직평가”, http://
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