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AFM Pre-report

저작시기 1997.01 |등록일 2011.01.25 한글파일한글 (hwp) | 6페이지 | 가격 5,000원

소개글

포항공과대학교 ( 포항공대, 포스텍, POSTECH ) 화학공학과의 `계측 실험`에서 atomic force microscopy(AFM,전자현미경) 실험입니다. 실험과목에서 프리, 결과보고서 모두 꼼꼼히 적었고,특히 프리에는 책에 없는 것을 추가적으로 이론에 많이 적었고,결과는 물리적, 화학적, 애플리케이션 측면 모두에서 고려하여 적었습니다.직접 보고서를 쓰다가 막히는 부분이 많을 것인데, 큰 도움이 될 거라고 생각합니다.

목차

없음

본문내용

Ⅰ Object
이 실험에서는 AFM(Atomic Force Microscope)의 원리와 작동법을 이해한다. 우리는 contact mode AFM을 수행하여 샘플 표면의 마찰을 측정한다.
Ⅱ Theory
1. 현미경 비교
2. AFM 특징
1) STM(Scanning Tunneling Microcopy)의 문제점 해결
STM과 주사형전자현미경(SEM)처럼 진공을 만들 필요가 없으며, 대기 중에서 측정이 가능하다. 이 때문에 장치가 작고 가격이 저렴하다(2억~3억원 정도). 액체 내와 고온, 저온 등의 다양한 환경에서 측정이 가능하다. SEM용 시료처럼 도전성 코팅 등의 시료의 전처리가 불필요하며, 생체시료등과 같은 자연에 가까운 상태에서도 측정이 가능하다.

<중 략>

5. Contact mode imaging
1) scan control/slow scan axis를 활성화 시킨다.
2) filename과 image를 capture한다.
6. LFM(Lateral Force Microscopy)
1) scan size를 1μm, scan angle을 90°로 바꾼다. channel 2를 더하고 data type을 friction으로 세팅한다.
2) 평평한 곳에서 scan control/slow scan axis를 불활성화 시킨다.
3) scope mode를 선택한다.
4) TMR signal을 기록한다.
5) set point voltage를 1V→1.5V→2V→2.5V로 바꾼다. TMRsignal을 기록하고 image를 capture한다.
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