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XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry) 의 원리

저작시기 2010.10 |등록일 2011.01.22 한글파일한글 (hwp) | 3페이지 | 가격 1,000원

소개글

XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry) 의 원리

목차

XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry)
(1) X-선 형광이란
(2) XRF의 이용
(3) XRF의 종류
(4) 측정 방법
1. 고체 시료
2. 분말 시료
3. 글라스 비드
4. 액체 시료

본문내용

XRF (X-Ray Flourescence Spectrometry)
원소를 분석하는 방법에는 시료를 파괴하는 파괴 검사가 일반적으로 많이 행하여진다. 그러나 XRF는 대부분의 다른 원소의 분석 방법과는 대조적으로 시료를 파괴하지 않고 측정할 수 있는 비파괴 분석으로서, 원자 번호 11번인 나트륨(Na)부터 92번 우라늄(U)까지의 원소를 정성(어떤 원소, 성분이 있는지를 분석) 및 정량 분석(어떤 원소가 얼마나 있는지를 분석)이 가능하다. 또한 한번의 측정에 많은 원소의 분석이 동시에 가능하고 분석 시간이 짧으며 정확도가 비교적 정확하기 때문에 보석 관련 분석연구실이나 기타 기업체에서 매우 중요한 위치를 차지하고 있는 첨단 분석 기기이다.


(1) X-선 형광이란

X-선의 발생에는 강한 전압이 걸려있는 음극의 가열된 필라멘트에서 튀어나온 전자가 빠른 속도로 양극의 원자량이 큰 물질에 충돌하면서 전자가 감속되며 남는 에너지인 연속 X-선과

(2) XRF의 이용
X-선 형광 분석법은 시료를 용액으로 처리하는 과정을 거치지 않고 원소를 ppm 단위까지 측정할 수 있기 때문에 1950년대 후반에서 1960년대 초에 널리 보급되었으며 그 후 산업의

(3) XRF의 종류
XRF는 크게 ED(에너지 분산 : Energy dispersive)-XRF와 WD(파장 분산 : Wavelength dispersive)-XRF로 나눌 수 있다. 일반적으로 보석을 분석하기 위해 사용되는 형광 분광기는
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