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x선 회절분석기

저작시기 2010.02 |등록일 2010.02.22 파워포인트파일MS 파워포인트 (pptx) | 26페이지 | 가격 2,500원

소개글

x선 회절분석기에 대한 최신자료

목차

xrd의 구조
x선원
시료
광학

본문내용

파장을 알고 있는 X-선의 회절상태를 측정하여 결정질(또는 비정질) 무질을 연구하기 위한 장치

X-선 회절 분석 장비는 각 제조업체마다 그들만의 독특한 특징을 갖고 있으며 이에 대한 더 자세한 정보는 장비 구입시 제공되는 manual를 참조해야 한다


고상 검출기(2)
p-형에 음전하, n-형에 양전하 걸어주면 전자와 정공은 분리되고 전자의 전하신호가 측정
검출기 작동 온도에서 전자-공쌍이 생성되기 위해서는 양자(격자 진동E의 양자단위)의 참여가 필요하다.
연속되는 광양자는 약간 다른 수의 전자-정공 쌍을 생성하여 신호의 크기에 변화가 생기고 좁은 피크 폭을 갖는다.
광양자의 에너지
한 개의 전자-정공 쌍을 생성하는 데 필요한 에너지
전자-정공 쌍의 수 (n) =
고상 검출기(3)
Si(Li) 고상검출기 냉각유지 이유
상온에서의 열에너지는 수많은 전자-정공 쌍을 생성하기에 충분하여 검출하려는 x-선 신호를 잡아먹을 정도로 높은 잡음 수위를 갖게 되기때문에 열로 인한 전자의 여기를 최소화 시켜야 한다.
검출기를 제작하는 과정에서 얻어진 Li의 분포를 엉망으로 만들 수 있기 때문에 리튬의 열확산을 최소화해야한다.
고상 검출기(4)
최신 고상 검출기는 펠티에(peltier)열전기적 냉각에 의해 이루어진다.
<펠티에 효과>
서로 유사하지 않은 두 전도체의 접합부를 통해 전류가 흐를 때 열은 전류의 극성에 따라 흡수되거나
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