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기초전자회로실험/남춘우/2001년/실험16. 측정기법 예비보고서.

저작시기 2009.05 |등록일 2009.05.30 한글파일한컴오피스 (hwp) | 4페이지 | 가격 1,000원

소개글

기초전자회로실험/남춘우/2001년/실험16. 측정기법 예비보고서.

시물레이션은 Pspice를 사용하였습니다.
가능한 모든 시물레이션을 해노았습니다.

목차

1. 실험목적
2. 이론
3. 사용기기 및 부품
4. 실험순서
5. 참고자료

본문내용

2. 이론
이 실험에서는 dc 및 ac의 전압 값을 주며 각 소자에 걸리는 전압을 측정하며 오차를 계산하는 실험이다. 신호를 주는 것은 직류전원 공급기와 신호발생기를 사용한다. 신호를 측정할 경우 간단하게는 DMM으로 측정 할 수 있고 정확한 파형을 측정할 경우는 오실로스코프를 사용한다.
오실로스코프로는 관측하는 신호가 시간에 대하여 어떻게 변화하는가를 조사하는 것이 주목적인데, 보통 브라운관의 수직축에 신호의 크기를, 수평축에 시간을 나타낸다. 이를 위해 오실로스코프는 6개의 기본회로로 만든다. 수직감쇠회로와 증폭회로는 관측하는 파형 신호를 브라운관의 수직편향전압에 맞춘다. 스위프회로는 수평축이 시간축이 되도록 동작시킨다.
그리고 동기회로(트리거회로)는 싱크로스코프로서 설치하며, 파형을 입력 신호와 쉽게 동기화한다. 원래 스위프파형의 주기를 조절하여 관측파형의 주기에 맞추면 스위프 시간은 파형 주기의 정수배이어야 한다는 제한이 있다. 하지만 싱크로스코프에서는 관측파형에 의해 펄스를 만들고 이것으로 스위프하는 트리거방식을 사용하므로, 어떤 모양의 파형도 쉽게 동기가 되어 관측하기가 쉽다. 이밖에 파형을 정량측정할 수 있도록 각종 교정장치가 달려 있다.
일반적인 것 외에 샘플링 오실로스코프, 직시형축적관과 같은 특수한 브라운관을 사용한 특수 오실로스코프가 있다. 샘플링 오실로스코프는 매우 빠르게 반복되기 때문에 일반용으로는 직접 관측할 수 없는 파형을 관측한다. 차례로 반복되어 들어오는 파형을 조금씩 위상을 변화시켜 추출(샘플링)하고, 추출된 파형을 표시하는 방식이다. 여기서, 입력신호의 주기를 T라 하고 1주기에 n회 추출하였다고 하면 이것으로 얻어진 파형의 주기는 (n+1)T가 되어, 수직축 증폭기의 주파수대역은 원래 파형의 1/n이면 직접 관측할 수 있다.

참고 자료

-. 기초전자회로실험, 남춘우, 2001년, 실험 16
-. http://ko.wikipedia.org (위키백과사전)
-. http://blog.naver.com/annina0404?Redirect=Log&logNo=40063252604 (네이버 블로그)
-. http://blog.naver.com/annina0404?Redirect=Log&logNo=40063287174 (네이버 블로그)
-. http://blog.naver.com/novatest?Redirect=Log&logNo=80021259546 (네이버 블로그)
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