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현미경의 전반적인 내용

저작시기 2008.03 |등록일 2008.03.15 워드파일MS 워드 (doc) | 8페이지 | 가격 900원

소개글

현미경에 대한 구조부터 주의사항까지 전반적인 내용이 있습니다.
대학교 레포트 제출해서 A+받았습니다.

목차

1. 실체현미경( 實體顯微鏡, stereoscopic microscope )
2. 이온 현미경(Ion microscope)
3. 위상차 현미경 (位相差顯微鏡, phase-contrast microscope )
4. 간섭현미경 ( 干涉顯微鏡, interference microscope )
5. 반사현미경(reflecting microscope,反射顯微鏡)
6. 편광현미경(polarization microscope,偏光顯微鏡)
7. 금속 현미경 ( 金屬顯微鏡, ***llurgical microscope )
8. 자외선현미경 ( 紫外線顯微鏡, ultraviolet microscope )
*사용방법
*주의 사항
*촛점을 맞추기 힘들때 간단하게 맞추는 방법
*배율
*해상력*취급 방법

본문내용

1. 실체현미경( 實體顯微鏡, stereoscopic microscope )
육안으로 가까운 곳에 있는 물체를 볼 때에는 두 눈이 틀린 각도로 보기 때문에 입체감을 얻을 수가 있다. 보통 현미경에서는 두 눈의 접안렌즈를 사용해도 대물렌즈로부터의 광축(光軸)이 하나이기 때문에 입체감을 얻을 수 없다.
그러나 실체현미경에서는 광축 사이에 약 15°로 벌어진 2개의 광속(光束)에 의해 정립(正立)한 확대상을 만들고, 이것을 각각의 눈으로 봄으로써 입체감을 얻을 수 있다. 배율은 통상 10∼30배이며, 경통 중간 부분에 optical zoom lens를 장착하여 배율을 연속적으로 바꿀 수 있는 것이 있는데 이를 Stereoscopic Zoom Microscopy라고 분리하여 부르기도 한다.
실체현미경을 해부현미경이라고 부르기도 하는데 이는 저배율에서 표본을 관찰하면서 해부하기 때문이다.
또한 저배율에서 표본의 전체를 보면서 해부 해야 하기 때문에 상이 뒤집힐 경우 불편하므로 일반적으로 상이 뒤집히지 않고 정상으로 보인다.

2. 이온 현미경(Ion microscope)
현재는 고체시료(試料)의 표면으로부터 이온을 방출하여 보는 형, 즉 이온방출현미경이 주로 사용되고 있다. 이러한 형은 이온방출 방법에 따라서 열이온형•2차이온형•전기장이온형으로 분류된다.
이 중에 전기장 이온현미경(Field Ion Microscope:FIM)은 발명자 E.W.뮐러(1951년 발명)의 이름을 따서 뮐러형 이온현미경이라고도 한다. 원자가 보이는 고배율(高倍率)의 것으로, 이온현미경이라 할 때는 일반적으로 이 현미경을 가리키며, 방출확대와 전기장 이온화의 2개의 원리를 이용하고 있다.연구분야는 표면물리•표면화학•금속학 등의 넓은 분야에 걸쳐 있으며 생물학에의 이용 발전도 기대되고 있다.

참고 자료

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