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ARM수업의 JTAG기술 레포트

저작시기 2006.10 |등록일 2008.02.02 한글파일한글 (hwp) | 3페이지 | 가격 700원

소개글

ARM수업에서 배우는 JTAG기술에 대해 그림과 함께 쉽게 설명한 자료 입니다.

목차

* JTAG(Joint Test Access Group) 기술 소개
* 내부 동작
* 연결 상태

본문내용

JTAG기술은 초기에 조립된 PCB의 시험을 목적으로 연구되었다. 기존의 테스트 방법인 Bed-of-Nails Proding은 바이스 패키징 및 부품 실장 기술로 발전하게 되었다. SMD 출현, 핀의 고집적화, 표면 실장, 양면 실장, 다층화등 Physical access가 어렵게 되어 기존 방법으로 테스트가 어려움이 생기게 되었다. 더욱이 프로그래머블 로직 디바이스의 온 보드 프로그래밍이 요구 되었다.
이러한 테스트 문제를 해결하기 위해 표준화된 로직(TAP:Test Access Port) 및 테스트 핀(Boundary scan cell)을 칩에 내장하여 테스트 방법을 표준화 하였다.

많은 프로세서 제조업체가 JTAG 인터페이스를 확장하여 사용하고 있으며, 대부분 온 칩 디버거에 접근하거나 제어하는데 사용하며, DRAM 등에 메모리 접근 또는 플레시 등의 로직 디바이스 프로그래밍에 사용된다.
JTAG 인터페이스는 시리얼 인터페이스를 가지며 기본적으로 8개의 signal로 구성되어 있다.
* nTEST : test reset
* TMS : test mode select
* TDI : test data input
* TDO : test data output
* TCK : test clock
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