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전자주사현미경(Scanning Electron Microscopy)

저작시기 2006.10 |등록일 2007.06.03 한글파일한글 (hwp) | 5페이지 | 가격 1,000원

소개글

전자주사현미경(Scanning Electron Microscopy)에 관한 레포트

목차

전자주사현미경(Scanning Electron Microscopy) 의미
주사전자현미경의 원리
주사전자현미경의 구조
주사전자현미경 영상의 형성
시료제작법

본문내용

기술이 진보함에 따라 마이크론 크기나 그 이하 크기의 시료에 대한 관찰과 분석을 통한 정확한 이해가 필요하게 되었다. 주사전자형미경(SEM)은 고체상태에서 미세조직과 형상을 관찰하는 데에 가장 다양하게 쓰이는 분석기기로서 50Å정도의 해상력을 지닌 것이 상품화되어 있고, 최근에 판매되고 있는 고분리능 SEM은 10Å이하의 해상력을 가지고 있다. 그리고 SEM의 초점심도가 크기 때문에 3차원적인 영상의 관찰이 용이해서 곡면 혹은 울퉁불퉁한 표면의 영상을 육안으로 관찰하는 것처럼 보여준다.
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