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[재료분석기기]XRD-X선 회절 분석기

저작시기 2006.06 |등록일 2006.06.28 워드파일MS 워드 (doc) | 15페이지 | 가격 1,500원

소개글

재료 분석에 있어서 기본이 되는 XRD의 원리와 구조에 대한 설명을 적은 레포트 입니다.

목차

X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
< XRD 분석원리와 특징 >
1. 구성
2. X선 발생장치(X-Ray Generator)
1) X선관(X-ray Tube)
2) 고전압 발생장치(High Voltage Generator)
3) 각종 보안회로
3. 고니오메타(Goniometer)
1) 집중법의 기본원리
2) 고니오메타(Goniometer)
4.계수 기록 장치
(1) Escape Peak
(2) 파고분석기 (Pulse Height Analyzer, PHA)
<<라우에 법>>
<<Debye scherrer Method>>

본문내용

X선 회절 분석기(X-Ray Diffractometer, XRD)
< XRD 분석원리와 특징 >
분석하려는 시료의 표면에 특성 X-Ray빔을 입사 시키면 시료 결정면의 회절현상에 의해 특성 X-Ray빔이 회절되어 나온다. 이 회절된 특성 X-Ray 빔의 각도 및 크기를 이용하여 시료의 결정구조, 결정립 크기, 면간격, 응력, 박막의 두께, 우선 배향된 방향 등을 알 수 있다. XRD에서는 K선만 사용한다. 이는 L선과 M선은 쉽게 흡수되어 측정이 힘들기 때문이다. XRD의 장점은 시료에 대한 제한이 적어 분말시료, 액체, thin film시편에 대해서도 측정이 가능하다는 것이다. XRD측정으로 얻어진 정보는 표준물질의 데이터 파일과 대조해서(JCPDS CARD 이용) 물질을 구별할 수 있다.

참고 자료

http://www.softdisc.co.kr/xrdm.html
http://www.iae.re.kr/develop/lease/information.php 고등기술연구원
http://tflab.skku.ac.kr/%B9%DD%B5%B5%C3%BC%20%B9%B0%B8%AE%20%BC%BC%B9%CC%B3%AA%20%C0%DA%B7%E1/XRD.PPT 반도체물리세미나 자료
http://tempark.hihome.com/XRD/equipment/Laue.htm
http://dexl.postech.ac.kr/diffraction/xrda.htm
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