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[공학]JTAG개요

저작시기 2005.05 |등록일 2006.06.05 워드파일MS 워드 (doc) | 8페이지 | 가격 1,200원

소개글

JTAG 개요관련 레포트입니다.

목차

I.배경
II.Boundary Scan Cell
1.기본구조
2.기능
III. JTAG 내부
1.Instruction Register
2.Identification Register
3.Bypass Register
4.Boundary Scan Cell Register
5.TAPC ( TAP Controller)
IV. 예제 : ID Code 읽어오기

본문내용

I. 배경
하드웨어의 테스트를 위해서1980년대 후반의 JTAG라는 곳에서 연구 중이던 Boundary Scan 설계를 IEEE에서 1990년에 표준화하였고 IEEE std 1149.1가 제정되었습니다.
JTAG는 칩 내부에 Boundary Cell이라는 것을 두어 외부의 핀과 일대 일로 연결시켜 프로세스가 할 수 있는 동작을 중간의 Cell을 통해 모든 동작을 인위적으로 수행할 수 있어 회로의 배선과 소자의 전기적 연결상태 테스트나 디바이스간의 연결상태 테스트 등에 이용할 수 있습니다.

II. Boundary Scan Cell

1. 기본구조
각각의 Cell은 Serial Shift Register 를 형성하기 위해서 서로 연결되어 있습니다.

PI (Parallel Input) : 외부 신호 입력 또는 Digital Logic에서 나오는 출력을 Cell 의 입장에서는 입력으로 볼 수 있습니다.
PO (Parallel Output) : 외부 신호 출력 또는 Digital Logic에 인가되는 입력을 Cell 의 입장에서는 출력으로 볼 수 있습니다.
SI (Scan Input) : 직렬 입력 단자
SO (Scan Output) : 직렬 출력단자

2. 기능
(1) Normal : PI신호 PO에 바로 넘겨버리는 기능
(2) Capture : PI에 들어오는 신호 Cell에 기억시키는 기능
(3) Shift : SI 입력은 cell에 기억시키고 cell의 내용은 SO에 옮겨오는 기능. 이 기능을 이용하여 각 cell의 내용을 외부에서 읽어볼 수 있고 특정상태를 내부에 인가할 수 있다
(4) Update : Cell에 있는 내용 PO에 인가하는 기능
=> 이 기능들은 Cell의 외부에 있는 register에 의해서 제어 받게 됩니다.
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