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평가점수B

[신소재(재료)공학] X 선(X-ray diffraction) 회절 분석 실험 및 결과 토의

저작시기 2004.12 |등록일 2004.12.30 한글파일한컴오피스 (hwp) | 10페이지 | 가격 2,000원

소개글

x 선 회절 분석에 대한 실험 및 결과 토론 보고서 입니다
수강 과목(재료설계및평가) A 받았습니다
많은 참고가 되길 바랍니다

목차

1. 실험목적

2. 이론 및 원리
(1) 분말법
(2) 결정에 의한 회절현상(Diffraction)

3. 실험 방법
(1) ZnO (hexagonal with a= 3.249 À and c= 5.206 À) 분말을 이용한 회절실험
(2) 박막시편 (Z-cut LT 위의 ZnO thin film)

4. 실험 결과
(1) ZnO powder
(2) LT (z-cut)
(3) Thin film(ZnO) on LT

5. 결과분석 및 토의

본문내용

1. 실험목적

분말 및 박막시편에 대한 회절실험을 통해 X-선 회절을 이용한 재료분석의 기본원리에 대해 이해한다.

참고
X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)
: X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 시료의 상태에 따라서 분말법용과 단결정용으로 분류할 수 있다. 전자의 경우는 Debye-Scherrer Camera, 후자의 경우는 Weissenberg Camera, 단결정 자동 X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD) 등이 있다. 또, X선 회절장치(X-Ray Diffractometer, XRD)는 X선(X-Rays)의 검출 방법에 따라서, Film을 사용하는 사진법에 의한 것과 Counter(검출기)를 이용하는 Counter법에 의한 것으로 분류할 수 있다. 전자는 Debye-Scherrer Camera(Powder Camera), Laue Camera, 후자는 Diffractometer 가 있다. Counter에 의해 자동기록방식을 이용한 X선 회절계(X-Ray Diffractometer, XRD)를 디프랙토메타(Diffractometer)라고 하며, 주로 분말법용으로 이용한다.
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