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[전자현미경관찰] 고분자sem관찰

등록일 2003.06.06 한글파일한컴오피스 (hwp) | 4페이지 | 가격 1,000원

목차

*전자 현미경의 원리
-SEM(Scanning Electron Microscope)

*SEM을 이용한 고분자 유기재료 관찰
-Case1
(HBA/HNA)블렌드
-Case2
섬유

본문내용

전자 현미경은 광원으로 고전압에 의해 가속된 전자빔을 사용하며 그 구성은 크게 전자빔을 가속시키는 전자총(electro gun)과 전자빔을 관찰시료에 쪼여주는 조사장치, 시료실과 1차 영상을 형성하는 대물렌즈, 1차 영상을 확대시켜서 형광판에 투영시키는 중간렌즈와 투영렌즈 그리고 영상의 결상 및 기록 장치로 구성되어 있다. 광원으로 전자빔을 이용하는 것은 전자가 음전하를 갖는 소립자라는 특성에 기인한 것이다. 즉 가속된 전자는 물질파로 취급할 경우 물질과의 산란도, 빛의 반사, 굴절과 회절의 현상으로 해석될 수 있으며 전하를 띈 입자이기에 전기장과 자기장에 의해서 수렴 혹은 발산이 쉬워서, 전자기장으로 구성된 렌즈작용으로 물체의 확대 영상을 형성할 수 있다. 전자의 이런 성질이 바로 전자 현미경의 학술적인 배경이다. 또한 전자빔을 광원으로 사용하면, 파장은 아주 작고, 적절한 렌즈를 사용하여 확대 영상을 쉽게 만들 수 있어서 전자 현미경의 분해능은 광학 현미경에 비하여 훨씬 뛰어나다.

참고 자료

없음
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